Saltar navegación principal
Norma
UNE-EN 60444-2:1997 (Ratificada)

UNE-EN 60444-2:1997 (Ratificada)

Medida de los parámetros de unidades de cristal de cuarzo por la técnica de fase nula en los circuitos en pi. Parte 2: Método de decalaje de fase para la medida de la capacidad dinámica de las unidades de cristal de cuarzo. (Ratificada por AENOR en octubre de 1997.)

MEASUREMENT OF QUARTZ CRYSTAL UNIT PARAMETERS BY ZERO PHASE IN A PI-NETWORK. PART 2: PHASE OFFSET METHOD FOR MEASUREMENT OF MOTIONAL CAPACITANCE OF QUARTZ CRYSTAL UNITS (Endorsed by AENOR in October of 1997.)

Fecha ratificación:
1997-10-01
Equivalencias internacionales:

EN 60444-2:1997 (Idéntico)

IEC 444-2:1980 (Idéntico)

Comprar en AENOR

Esta norma está disponible en:

Formato físico y digital

Inglés