UNE-EN 60749-5:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation