UNE-EN 60749-15:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 15: Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados con agujeros pasantes.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 15: Résistance à la température de soudage pour dispositifs par trous traversants