UNE-EN 15991:2011 (Ratificada)

Ensayo de materiales cerámicos y básicos. Determinación directa de la fracción másica de impurezas en los polvos y granos de carburo de silicio mediante la espectroscopía de emisión óptica de plasma (ICP-OES) con vaporización electrotérmica (ETV) (Ratificada por AENOR en marzo de 2011.)

Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV) (Endorsed by AENOR in March of 2011.)

Essais sur matériaux céramiques et basiques - Détermination directe des fractions massiques d'impuretés dans les poudres et les granulés de carbure de silicium par spectroscopie d'émission optique à plasma induit par haute fréquence (ICP OES) avec vaporisation électrothermique (ETV) (Entérinée par l’AENOR en mars 2011.)