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Norma

UNE 20607:1980

UNE 20607:1980

Planes de muestreo para determinar la tasa de fallos de los componentes electrónicos de fiabilidad establecida.

FAILURE RATE SAMPLING PLANS AND PROCEDURES

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Fecha Edición:

1980-12-15 /Anulada

Fecha anulación:

2013-01-24

Versión confirmada en fecha:

2000-12-01

ICS:

03.120.30 / Aplicación de métodos estadísticos

31.020 / Componentes electrónicos en general

CTN:

CTN 200/SC 56 - Confiabilidad

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Esta norma está disponible en:

Formato físico y digital

Español