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Norma
UNE-EN IEC 60749-30:2020 (Ratificada)

UNE-EN IEC 60749-30:2020 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 30: Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de su ensayo de fiabilidad. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2020.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2020.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 30: Préconditionnement des composants pour montage en surface non hermétiques avant les essais de fiabilité (Entérinée par l'Asociación Española de Normalización en novembre 2020.)

Fecha ratificación:
2020-11-01
Equivalencias internacionales:

EN IEC 60749-30:2020 (Idéntico)

IEC 60749-30:2020 (Idéntico)

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