UNE-EN 60749-11:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 11: Variaciones rápidas de temperatura. Método de los dos baños.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method.

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 11: Variations rapides de température - Méthode des deux bains.