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Norma
ISO 16700:2016

ISO 16700:2016

Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification

Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Lignes directrices pour l'étalonnage du grandissement d'image

Fecha:
2016-07-18 / Published
Comité:
ISO/TC 202/SC 4 - Scanning electron microscopy
Relación con otras normas ISO:

Anula a: ISO 16700:2004

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