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Norma
ISO 16700:2016

ISO 16700:2016

Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification

Analyse par microfaisceaux -- Microscopie électronique à balayage -- Lignes directrices pour l'étalonnage du grandissement d'image

Fecha:
2016-07-18 / Vigente
Comité:
ISO/TC 202/SC 4 - Scanning electron microscopy
Relación con otras normas ISO:

Anula a: ISO 16700:2004

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