Saltar navegación principal
Norma
ISO 14606:2015

ISO 14606:2015

Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials

Analyse chimique des surfaces -- Profilage d'épaisseur par bombardement -- Optimisation à l'aide de systèmes mono- ou multicouches comme matériaux de référence

Fecha:
2015-12-01 / Vigente
Comité:
ISO/TC 201/SC 4 - Depth profiling
Relación con otras normas ISO:

Anula a: ISO 14606:2000

Comprar en AENOR

Esta norma está disponible en:

Formato digital

Inglés