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Norma
ISO/TR 15969:2001

ISO/TR 15969:2001

Surface chemical analysis — Depth profiling — Measurement of sputtered depth

Analyse chimique des surfaces — Profilage d'épaisseur — Mesurage de l'épaisseur bombardée

Fecha Anulación:
2001-05-31 / Withdrawn
ICS:

71.040.40 - Chemical analysis. Including analysis of gases and surface chemical analysis

Comité:
ISO/TC 201/SC 4 - Depth profiling
Relación con otras normas ISO:

Es anulada por: ISO/TR 15969:2021

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