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Norma
ISO 17470:2014

ISO 17470:2014

Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

Analyse par microfaisceaux — Analyse par microsonde électronique (Microsonde de Castaing) — Lignes directrices pour l'analyse qualitative ponctuelle par spectrométrie de rayons X à dispersion de longueur d'onde (WDX)

Fecha:
2014-01-06 / Published
Comité:
ISO/TC 202/SC 2 - Electron probe microanalysis
Relación con otras normas ISO:

Anula a: ISO 17470:2004

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