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Norma
ISO 24173:2009

ISO 24173:2009

Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction

Analyse par microfaisceaux — Lignes directrices pour la mesure d'orientation par diffraction d'électrons rétrodiffusés

Fecha Anulación:
2009-09-14 / Withdrawn
Comité:
ISO/TC 202 - Microbeam analysis
Relación con otras normas ISO:

Es anulada por: ISO 24173:2024

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