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Norma
IEC 62416:2010

IEC 62416:2010

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors

Dispositifs à semiconducteurs - Essai de porteur chaud sur les transistors MOS

Fecha:
2010-04-26 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.
Resumen (francés):
La CEI 62416:2010 décrit l'essai de porteur chaud au niveau de la plaquette sur les transistors NMOS et PMOS. Cet essai est destiné à déterminer si les transistors individuels sont conformes à la durée de vie exigée du porteur chaud dans un processus (C)MOS donné.

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