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Norma
IEC 63287-1:2021

IEC 63287-1:2021

Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification

Dispositifs à semiconducteurs - Lignes directrices génériques concernant la qualification des semiconducteurs - Partie 1: Lignes directrices concernant la qualification de la fiabilité des circuits intégrés

Fecha:
2021-08-25 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 63287-1:2021 gives guidelines for reliability qualification plans of semiconductor integrated circuit products. This document is not intended for military- and space-related applications.
NOTE 1 The manufacturer can use flexible sample sizes to reduce cost and maintain reasonable reliability by this guideline adaptation based on EDR-4708, AEC Q100, JESD47 or other relevant document can also be applicable if it is specified.
NOTE 2 The Weibull distribution method used in this document is one of several methods to calculate the appropriate sample size and test conditions of a given reliability project.
This first edition of IEC 63287-1 cancels and replaces the first edition of IEC 60749-43 published in 2017. This edition constitutes a technical revision.
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
  1. the document has been renamed and renumbered to distinguish it from the IEC 60749 (all parts);
  2. a new section concerning the concept of "family" has been added with appropriate renumbering of the existing text.
Resumen (francés):
L’IEC 63287-1:2021 fournit des lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité des produits de CI à semiconducteurs. Le présent document n’est pas destiné aux applications militaires et spatiales.
NOTE 1 Le fabricant peut utiliser des tailles d’échantillons flexibles afin de réduire les coûts tout en maintenant une fiabilité raisonnable par l’adaptation des présentes lignes directrices fondées sur l’EDR-4708. S’ils sont spécifiés, les documents AEC Q100, JESD47 ou tout autre document pertinent spécifié peuvent également être applicables.
NOTE 2 La méthode de la loi de Weibull utilisée dans le présent document n’est qu’une méthode parmi d’autres permettant de calculer la taille d’échantillon et les conditions d’essai appropriées pour un projet de fiabilité donné.
Cette première édition de l’IEC 63287-1 annule et remplace la première édition de l’IEC 60749-43 parue en 2017. Cette édition constitue une révision technique.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
  1. le document a été renommé et renuméroté afin de le différencier de l’IEC 60749 (toutes les parties);
  2. une nouvelle section portant sur le concept de famille a été ajoutée avec une renumérotation appropriée du texte existant.

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