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Norma
IEC 62215-3:2013

IEC 62215-3:2013

Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité aux impulsions - Partie 3: Méthode d'injection de transitoires non synchrones

Fecha:
2013-07-17 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 62215-3:2013 specifies a method for measuring the immunity of an integrated circuit (IC) to standardized conducted electrical transient disturbances. The disturbances, not necessarily synchronized to the operation of the device under test (DUT), are applied to the IC pins via coupling networks. This method enables understanding and classification of interaction between conducted transient disturbances and performance degradation induced in ICs regardless of transients within or beyond the specified operating voltage range.
Resumen (francés):
La CEI 62215-3:2013 spécifie une méthode pour mesurer l'immunité d'un circuit intégré (CI) aux perturbations transitoires électriques conduites normalisées. Les perturbations, non nécessairement synchronisées sur le fonctionnement du dispositif en essai (DUT, device under test), sont appliquées aux broches du circuit intégré via des réseaux de couplage. Cette méthode permet de comprendre et de classer les interactions entre des perturbations transitoires conduites et la dégradation de fonctionnement induite dans les circuits intégrés indépendamment des transitoires à l'intérieur ou au-delà de la gamme de tensions de fonctionnement spécifiées.

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