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Norma
IEC 61967-8:2011

IEC 61967-8:2011

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI

Fecha:
2011-08-11 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 61967-8:2011 defines a method for measuring the electromagnetic radiated emission from an integrated circuit (IC) using an IC stripline in the frequency range of 150 kHz up to 3 GHz. The IC being evaluated is mounted on an EMC test board (PCB) between the active conductor and the ground plane of the IC stripline arrangement.

This publication is to be read in conjunction with IEC 61967-1:2002.
Resumen (francés):
La CEI 61967-8:2011 définit une méthode en vue de mesurer l'émission électromagnétique rayonnée d'un circuit intégré (CI) utilisant une ligne TEM à plaques (stripline) pour CI dans la plage de fréquences comprise entre 150 kHz et 3 GHz. Le CI évalué est monté sur une carte d'essai CEM (CCI, Carte de Circuit Imprimé) entre le conducteur actif et le plan de masse de l'agencement de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI.

Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 61967-1:2002.

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