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Norma
IEC 63185:2020

IEC 63185:2020

Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method

Méthode au résonateur à disque circulaire de type symétrique pour mesurer la permittivité complexe des substrats diélectriques à faible perte

Fecha:
2020-12-08 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 63185:2020 relates to a measurement method for complex permittivity of a dielectric substrates at microwave and millimeter-wave frequencies. This method has been developed to evaluate the dielectric properties of low-loss materials used in microwave and millimeter-wave circuits and devices. It uses higher-order modes of a balanced-type circular disk resonator and provides broadband measurements of dielectric substrates by using one resonator, where the effect of excitation holes is taken into account accurately on the basis of the mode-matching analysis.
Resumen (francés):
l’IEC 63185:2020 traite d’une méthode de mesure de la permittivité complexe des substrats diélectriques aux hyperfréquences et aux fréquences à ondes millimétriques. Cette méthode a été élaborée pour évaluer les propriétés diélectriques des matériaux à faible perte utilisés dans les circuits et dispositifs hyperfréquences et à ondes millimétriques. Cette méthode utilise des modes d’ordre supérieur d’un résonateur à disque circulaire de type symétrique et permet d’effectuer, à l’aide d’un résonateur, des mesurages à large bande de substrats diélectriques, dont l’effet des trous d’excitation est pris en compte avec exactitude sur la base de l’analyse de couplage de mode.

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