Saltar navegación principal
Norma
IEC 61580:1995

IEC 61580:1995

Measurement of return loss on waveguide and waveguide assemblies

Mesure des pertes de réflexion dans un guide d'ondes et des assemblages de guides d'ondes

Fecha:
1995-11-22 /Vigente
Resumen (inglés):
Describes the sweep frequency method used for the measurement of return loss on waveguide and waveguide assemblies. The contents of the corrigendum of July 2006 have been included in this copy.
Resumen (francés):
Spécifie la méthode de balayage en fréquence utilisée pour la mesure des pertes de réflexion dans un guide d'ondes et des assemblages de guides d'onde. Le contenu du corrigendum de juillet 2006 a été pris en considération dans cet exemplaire.

Comprar en AENOR

Esta norma está disponible en:

Formato digital

Bilingüe