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Norma
IEC 60749/AMD4/FRAG4 ED1

IEC 60749/AMD4/FRAG4 ED1

Amendment to IEC 749 - Clause 1: Substrate bending test for SMD-Semiconductors

Fecha:
1995-11-10 /Anulada
Resumen (inglés):
Resumen (francés):

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