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Norma
IEC 60759:1983

IEC 60759:1983

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

Méthodes d'essais normalisés des spectromètres d'énergie X à semicteur

Fecha:
1983-01-01 /Vigente
Resumen (inglés):
Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer.
Resumen (francés):
Donne les méthodes d'essais normalisés des spectromètres d'énergie X à semicteur constitués d'un semicteur et de l'électronique de traitement du signal liés par une interface à un analyseur d'amplitude couplé à un calculateur.

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