IEC 60759:1983

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

Méthodes d'essais normalisés des spectromètres d'énergie X à semicteur

Fecha:

1983-01-01 /Vigente

Resumen (inglés):

Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer.

Resumen (francés):

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