Saltar navegación principal
Norma
IEC 60749-8:2002/COR1:2003

IEC 60749-8:2002/COR1:2003

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

Corrigendum 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 8: Etanchéité

Fecha:
2003-04-23 /Vigente
Resumen (inglés):
Resumen (francés):

Comprar en AENOR

Esta norma está disponible en:

Formato digital

Bilingüe