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Norma
IEC 60749-4:2002

IEC 60749-4:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4: Essai continu fortement accéléré de contrainte de chaleur humide (HAST)

Fecha:
2002-04-12 /Anulada
Resumen (inglés):
Provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.
Resumen (francés):
Décrit un essai de contrainte de température et d'humidité fortement accéléré (HAST) qui est réalisé dans le but d'évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.

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