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Norma
IEC 60749-3:2002

IEC 60749-3:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 3 : Examen visuel externe

Fecha:
2002-04-09 /Anulada
Resumen (inglés):
Aims at verifying that the materials, design, construction, markings, and workmanship of a semiconductor device are in accordance with the applicable procurement document. External visual inspection is a non-destructive test and applicable for all package types. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.
Resumen (francés):
Vise à vérifier que les matériaux, la conception, la construction, les marquages et l'exécution du dispositif à semiconducteurs sont conformes au document d'approvisionnement applicable. L'examen visuel externe est un essai non destructif et il est applicable à tous les types de boîtiers. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.

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