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Norma
IEC 60749-29:2011

IEC 60749-29:2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 29: Essai de verrouillage

Fecha:
2011-04-07 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 60749-29:2011 covers the I-test and the overvoltage latch-up testing of integrated circuits. The purpose of this test is toestablish a method for determining integrated circuit (IC) latch-up characteristics and to define latch-up failure criteria. Latch-up characteristics are used in determining product reliability and minimizing "no trouble found" (NTF) and "electrical overstress" (EOS) failures due to latch-up. This second edition cancels and replaces the first edition published in 2003 and constitutes a technical revision. The significant changes with respect to the previous edition include:
- a number of minor technical changes;
- the addition of two new annexes covering the testing of special pins and temperature calculations.
Resumen (francés):
La CEI 60749-29:2011 couvre l'essai I et l'essai de verrouillage de surtension des circuits intégrés. L'objet de cet essai est d'établir une méthode pour déterminer les caractéristiques de verrouillage des circuits intégrés (CI) et pour définir les critères de défaillance de verrouillage. Les caractéristiques de verrouillage sont utilisées pour la détermination de la fiabilité de produit et la minimisation des défaillances en rapport avec "l'absence d'observation de problèmes" (NTF, No Trouble Found) et la "contrainte électrique excessive" (EOS, Electrical Overstress) dues au verrouillage. Cette deuxième édition annule et remplace la première édition publiée en 2003 et constitue une révision technique. Les modifications importantes apportées par rapport à l'édition antérieure concernent:
- un certain nombre de modifications techniques mineures;
- l'addition de deux nouvelles annexes traitant de l'essai des broches spéciales et des calculs de température.

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