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Norma
IEC 60749-17:2003

IEC 60749-17:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 17: Irradiation aux neutrons

Fecha:
2003-02-20 /Anulada
Resumen (inglés):
Used to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. Applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices.
Resumen (francés):
Utilisé pour déterminer la sensibilité à la dégradation des dispositifs à semiconducteurs placés dans un environnement de neutrons. Applicable aux circuits intégrés et aux dispositifs à semiconducteurs.

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