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Norma
IEC 60749-13:2002/COR1:2003

IEC 60749-13:2002/COR1:2003

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere

Corrigendum 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13: Atmosphère saline

Fecha:
2018-02-15 /Anulada
Resumen (inglés):
Modification of the validity date: now put at 2007.
Resumen (francés):
Relaciones con otras normas IEC

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