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Norma
IEC 60749-1:2002

IEC 60749-1:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 1: Généralités

Fecha:
2002-08-30 /Vigente
Resumen (inglés):
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all the other parts of the series. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.
Resumen (francés):
Applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés)et établit des dispositions communes à toutes les autres parties de la série. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.

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