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Norma
IEC TS 61586:2017

IEC TS 61586:2017

Estimation of the reliability of electrical connectors

Estimation de la fiabilte des connecteurs electriques

Fecha:
2017-01-25 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC TS 61586:2017 deals with the estimation of the inherent design reliability of electrical connectors through the definition and development of an appropriate accelerated testing programme. The basic intrinsic degradation mechanisms of connectors, which are those mechanisms which exist as a result of the materials and geometries chosen for the connector design, are reviewed to provide a context for the development of the desired test programme. While extrinsic degradation mechanisms may also significantly affect the performance of connectors, they vary widely by application and thus are not addressed in this document. This second edition cancels and replaces the first edition published in 1997. This edition constitutes a technical revision. The main technical changes with regard to the previous edition are as follows: A specific “basic” testing protocol is defined which utilizes a single test group subjecting connectors to multiple stresses, Additional information is provided concerning test acceleration factors, A discussion of the limitations of providing MTTF/MTBF estimates for connectors has been added and the bibliography has been expanded.
Resumen (francés):
IEC TS 61586:2017 traite de l’estimation de la fiabilité inhérente à la conception des connecteurs électriques par la définition et le développement de programmes d’essais accélérés appropriés. Les mécanismes de dégradation intrinsèque élémentaire des connecteurs, qui sont liés au choix des matériaux et de la géométrie utilisés dans leur conception, sont examinés afin de fournir un contexte pour le développement des programmes d’essais souhaités. Bien que les mécanismes de dégradation intrinsèque puissent avoir des conséquences significatives sur les performances des connecteurs, ils divergent largement d’une application à l’autre; ils ne sont donc pas traités dans le présent document. Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 1997. Cette édition constitue une révision technique. Les principales modifications techniques par rapport à l'édition précédente sont les suivantes:Un protocole de test «de base» spécifique est défini qui utilise un seul groupe de test soumettant les connecteurs à de multiples contraintes, des informations supplémentaires sont fournies sur les facteurs d'accélération de test, une discussion sur les limites de la fourniture des estimations MTTF / MTBF pour les connecteurs a été ajoutée et la bibliographie a été élargie.

Mots clés: connecteurs, fiabilité, intrinsèque, extrinsèque

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