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Norma
IEC 62435-2:2017

IEC 62435-2:2017

Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Deterioration mechanisms

Composants électroniques - Stockage de longue durée des dispositifs électroniques à semiconducteurs - Partie 2: Mécanismes de détérioration

Fecha:
2017-01-24 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 62435-2:2017 is related to deterioration mechanisms and is concerned with the way that components degrade over time depending on the storage conditions applied. This part also includes guidance on test methods that may be used to assess generic deterioration mechanisms. Typically, this part is used in conjunction with IEC 62435-1:2017 for any device long-term storage whose duration may be more than 12 months for product scheduled for long duration storage.
Resumen (francés):
L’IEC 62435-2:2017 a trait aux mécanismes de détérioration et traite de la façon dont les composants se dégradent dans le temps en fonction des conditions de stockage appliquées. La présente partie contient aussi des préconisations sur les méthodes d’essai qui peuvent être utilisées pour évaluer les mécanismes de détérioration génériques. Elle s’utilise habituellement conjointement avec l’IEC 62435-1:2017 pour tout stockage de dispositifs dont la durée peut être supérieure à 12 mois, pour un produit destiné à être stocké pendant une durée prolongée.

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