IEC 62951-4:2019

2019-02-27 /Vigente

IEC 62951-4:2019 specifies an evaluation method of the bending fatigue properties of conductive thin film and flexible substrate for the application at flexible semiconductor devices. The films include any films deposited or bonded onto a non-conductive flexible substrate such as thin metal film, transparent conducting electrode, and thin silicon film used for flexible semiconductor devices. The electrical and mechanical behaviours of films on the substrate are evaluated. The fatigue test methods include dynamic bending fatigue test and static bending fatigue test.

L’IEC 62951-4:2019 spécifie une méthode d’évaluation des propriétés de fatigue en flexion des couches souples conductrices et des substrats souples pour l'application à des dispositifs semiconducteurs souples. Les couches comprennent toute couche déposée ou collée sur un substrat souple non conducteur telle qu’une couche métallique mince, une électrode conductrice transparente et une couche de silicium mince utilisée pour des dispositifs à semiconducteurs souples. L'évaluation porte sur les comportements électriques et mécaniques des couches sur les substrats. Les méthodes d’essai de fatigue comprennent l’essai de fatigue en flexion dynamique et l’essai de fatigue en flexion statique.

• : IEC 60747-12:1991