Saltar navegación principal
Norma
IEC 60512-16-1:2008

IEC 60512-16-1:2008

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 16-1: Mechanical tests on contacts and terminations - Test 16a: Probe damage

Connecteurs pour équipements électroniques - Essais et mesures - Partie 16-1: Essais mécaniques des contacts et des sorties - Essai 16a: Endommagement par sonde d'essai

Fecha:
2008-06-11 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 60512-16-1:2008 details a standard test method to assess the effectiveness of the elastic system of contacts to resist damage from the insertion of a specified test probe.
Resumen (francés):
La CEI 60512-16-1:2008 détaille une méthode d'essai normalisée pour évaluer l'efficacité du système élastique des contacts pour résister aux dommages provoqués par l'insertion d'une sonde d'essai spécifiée.

Comprar en AENOR

Esta norma está disponible en:

Formato digital

Inglés / Bilingüe