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Norma
IEC 60410:1973

IEC 60410:1973

Sampling plans and procedures for inspection by attributes

Plans et règles d'échantillonnage pour les contrôles par attributs

Fecha:
1973-01-01 /Anulada
Resumen (inglés):
Establishes sampling plans and procedures for inspection by attributes. These sampling plans are applicable, but not limited, to inspection of end items, components and raw materials, operations, materials in process, supplies in storage, maintenance operations, data or records and administrative procedures.
Resumen (francés):
Donne des plans et des règles d'échantillonnage pour les contrôles par attributs. Ces plans d'échantillonnage sont applicables notamment, mais d'une manière non limitative, aux contrôles des produits finis, des composants ou matières premières, des opérations (phases d'usinage), des matériels en cours de fabrication, des fournitures en stock, des opérations d'entretien, des informations ou enregistrements et des procédures administratives.

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