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Norma
IEC 60749:1984/AMD1:1991

IEC 60749:1984/AMD1:1991

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods.

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques .

Fecha:
1996-10-28 /Anulada
Resumen (inglés):
Resumen (francés):
Relaciones con otras normas IEC

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