Saltar navegación principal
Norma
IEC 60596:1978

IEC 60596:1978

Definitions of test method terms for semiconductor radiation detectors and scintillation counting

Définitions relatives aux méthodes d'essais de semicteurs et d'ensembles de comptage à scintillation.

Fecha:
1978-01-01 /Anulada
Resumen (inglés):
Concerns the test methods described in IEC 333.
Resumen (francés):

Comprar en AENOR

Esta norma está disponible en:

Formato digital

Bilingüe / Ruso