IEC 62047-10:2011/COR1:2012

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials

Corrigendum 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 10: Essai de compression utilisant la technique des micro-piliers pour les matériaux des MEMS

Fecha:

2012-02-28 /Vigente

Resumen (inglés):

Resumen (francés):

Relaciones con otras normas IEC

Modifica a: IEC 62047-10:2011

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