Home>Encuentra tu norma>Busca tu norma>IEC

Norma

IEC 60749-8:2002/COR1:2003

IEC 60749-8:2002/COR1:2003

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

Corrigendum 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 8: Etanchéité

Fecha:

2003-04-23 /Vigente

Resumen (inglés):

Resumen (francés):

Relaciones con otras normas IEC

Es modificada por: IEC 60749-8:2002/COR2:2003
Modifica a: IEC 60749-8:2002

Comprar en AENOR

Esta norma está disponible en:

Formato digital

Bilingue