IEC 60512-6-2:2002

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 6-2: Dynamic stress tests - Test 6b: Bump

Connecteurs pour équipements électroniques - Essais et mesures - Partie 6-2: Essais de contraintes dynamiques - Essai 6b: Secousses

Fecha:

2002-02-21 /Vigente

Resumen (inglés):

Defines a standard test method to assess the ability of components (essentially connectors) to withstand specified severities of bump.

Resumen (francés):

Esta norma está disponible en:

Formato digital

Bilingue