IEC PAS 62205:2000

High temperature storage life

Fecha:

2002-07-01 /Anulada

Resumen (inglés):

Aims at determining the effect on solid state electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered destructive.

Resumen (francés):

Relaciones con otras normas IEC

Es anulada por: IEC 60749-6:2002

Comprar en AENOR

Esta norma está disponible en:

Formato digital

Ingles