IEC 61189-2:1997/AMD1:2000

Amendment 1 - Test methods for electrical materials, interconnection structures and assemblies - Part 2: Test methods for materials for interconnection structures

Fecha:

2006-05-30 /Anulada

Resumen (inglés):

Resumen (francés):

Relaciones con otras normas IEC

Modifica a: IEC 61189-2:1997
Es anulada por: IEC 61189-2:2006

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