IEC 60147-2G:1975

Supplement G - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 2: General principles of measuring methods - Chapter 4: Field-effect transistors

Complément G - Valeurs limites et caractéristiques essentielles des dispositifs à semiconducteurs et principes généraux des méthodes de mesure - Partie 2: Principes généraux des méthodes de mesure - Chapitre 4: Transistors à effet de champ