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UNE-EN 60862-3:2005  UNE

Estado: Vigente / 2005-03-30

Filtros de ondas acústicas de superficie (OAS) con calidad garantizada. Parte 3: Diseños normalizados.

UNE-EN 60862-1:2005  UNE

Estado: Anulada / 2018-09-25

Filtros de ondas acústicas de superficie (OAS) con calidad evaluada. Parte 1: Especificación genérica.

UNE-EN 60862-2:2003  UNE

Estado: Anulada / 2015-06-12

Filtros de ondas acústicas de superficie (OAS) con aseguramiento de la calidad. Parte 2: Guía de uso.

UNE-EN 61337-1-1:1997  UNE

Estado: Anulada / 2003-08-01

Filtros que utilizan resonadores dieléctricos en modo guiado. Parte 1: Informaciones generales, valores normalizados y condiciones de ensayo. Sección 1: Informaciones generales y valores normalizados. (Ratificada por AENOR en junio de 1998.)

UNE-EN 61837-1:1999  UNE

Estado: Anulada / 2015-05-26

Dispositivos piezoeléctricos de montaje en superficie para el control y la selección de la frecuencia. Contornos normalizados y conexiones de los terminales. Parte 1: Contornos de los envolventes moldeados en plástico. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1999.)

UNE-EN 61019-2:1997  UNE

Estado: Anulada / 2008-06-01

Resonadores de onda acústica de superficie (SAW). Parte 2: Guía de uso. (Ratificada por AENOR en junio de 1998.)

UNE-EN 61240:1997  UNE

Estado: Anulada / 2015-08-30

Dispositivos piezoeléctricos. Preparación de croquis de dispositivos de montaje en superficie (SMD) para control y selección de la frecuencia. Reglas generales. (Ratificada por AENOR en diciembre de 1997.)

UNE-EN 60679-1:1998  UNE

Estado: Anulada / 2010-05-01

Osciladores controlados por cristal de cuarzo con aseguramiento de la calidad. Parte 1: Especificación genérica. (Ratificada por AENOR en junio de 1998.)

UNE-EN 60679-4:1998  UNE

Estado: Vigente / 1998-06-01

Osciladores controlados por cristal de cuarzo con aseguramiento de la calidad. Parte 4: Especificación intermedia. Aprobación de la capacidad. (Ratificada por AENOR en junio de 1998.)

UNE-EN 60679-4-1:1998  UNE

Estado: Vigente / 1998-07-01

Osciladores controlados por cristal de cuarzo con aseguramiento de la calidad. Parte 4-1: Especificación marco particular. Evaluación de la capacitación. (Ratificada por AENOR en julio de 1998.)

UNE-EN 60444-2:1997  UNE

Estado: Vigente / 1997-10-01

Medida de los parámetros de unidades de cristal de cuarzo por la técnica de fase nula en los circuitos en pi. Parte 2: Método de decalaje de fase para la medida de la capacidad dinámica de las unidades de cristal de cuarzo. (Ratificada por AENOR en octubre de 1997.)

UNE-EN 60444-3:1997  UNE

Estado: Anulada / 2023-10-05

Medida de los parámetros de unidades de cristal de cuarzo por la técnica de fase nula en los circuitos en pi. Parte 3: Método básico para la medida de parámetros de dos terminales de unidades de cristal de cuarzo hasta 200 MHz por la técnica en fase en los circuitos en pi con compensación de la capacidad paralela Co. (Ratificada por AENOR en octubre de 1997.)

UNE-EN 60444-4:1997  UNE

Estado: Vigente / 1997-10-01

Medida de los parámetros de unidades de cristal de cuarzo por la técnica de fase nula en los circuitos en pi. Parte 4: Método de la medida de la frecuencia en carga fL, resistencia de resonancia en carga RL y para el cálculo de otros valores de las unidades de cristal de cuarzo, hasta 30 MHz. (Ratificada por AENOR en octubre de 1997.)

UNE-EN 60444-5:1997  UNE

Estado: Vigente / 1997-10-01

Medida de los parámetros de unidades de cristal de cuarzo por la técnica de fase nula en los circuitos en pi. Parte 5: Métodos para la determinación de los parámetros eléctricos equivalentes empleando técnicas de análisis automático de redes y corrección de error. (Ratificada por AENOR en octubre de 1997.)

UNE-EN 60679-5:1998  UNE

Estado: Vigente / 1998-11-01

Osciladores controlados por cristal de cuarzo con aseguramiento de la calidad. Parte 5: Especificación intermedia. Aprobación de la cualificación. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1998.)

UNE-EN 60679-5-1:1998  UNE

Estado: Vigente / 1998-11-01

Osciladores controlados por cristal de cuarzo con aseguramiento de la calidad. Parte 5-1: Especificación marco particular. Aprobación de la cualificación. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1998.)

UNE-EN 166101:1999  UNE

Estado: Vigente / 1999-06-01

Especificación marco particular: Filtro de onda acústica superficial (SAW). Evaluación de capacidad. (Ratificada por AENOR en junio de 1999.)

UNE-EN 167000:1993  UNE

Estado: Anulada / 2014-02-06

Especificación genérica: Filtros piezoeléctricos. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

UNE-EN 167000/A1:1997  UNE

Estado: Anulada / 2014-02-06

Especificación genérica: Filtros piezoeléctricos. (Ratificada por AENOR en julio de 1998.)

UNE-EN 167100:1992  UNE

Estado: Anulada / 2014-02-06

Especificación intermedia: filtros piezoeléctricos (aprobación de la capacidad de producción). (Ratificada por AENOR en enero de 1996.)

UNE-EN 167101:1993  UNE

Estado: Anulada / 2004-01-22

ESPECIFICACION MARCO DE DETALLE: FILTROS PIEZOELECTRICOS (APROBACION DE LA CAPACIDAD DE PRODUCCION). (RATIFICADA POR AENOR EN ENERO DE 1996.)

UNE-EN 168000:1993  UNE

Estado: Anulada / 2005-10-01

Especificación genérica: Unidades de cristal de cuarzo. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)

UNE-EN 168000/A2:1998  UNE

Estado: Anulada / 2005-10-01

Especificación genérica: Unidades de cristal de cuarzo. (Ratificada por AENOR en julio de 1998.)

UNE-EN 60444-6:1997  UNE

Estado: Anulada / 2016-07-25

Medición de parámetros de cristal de cuarzo. Parte 6: Medida de la dependencia del nivel de excitación (DLD). (Ratificada por AENOR en junio de 1998.)

UNE-EN 169200:1993  UNE

Estado: Anulada / 2014-02-13

Especificación intermedia: osciladores controlados por cristales de cuarzo (aprobación de la cualificación). (Ratificada por AENOR en enero de 1996.)

UNE-EN 169201:1993  UNE

Estado: Anulada / 2014-02-13

Especificación marco de detalle: osciladores controlados por cristales de cuarzo (aprobación de la cualificación). (Ratificada por AENOR en enero de 1996.)

UNE-EN 60368-2-2:1999  UNE

Estado: Vigente / 1999-06-01

Filtros piezoeléctricos. Parte 2: Guía para el uso de los filtros piezoeléctricos. Sección 2: Filtros de cerámica piezoeléctricos. (Ratificada por AENOR en junio de 1999.)

UNE-EN 60444-1:1997  UNE

Estado: Vigente / 1997-10-01

Medida de los parámetros de unidades de cristal de cuarzo por la técnica de fase nula en los circuitos en pi. Parte 1: Método básico para la medida de la frecuencia de resonancia y de la resistencia de resonancia de los cristales de cuarzo por la técnica de fase nula en los circuitos en pi. (Ratificada por AENOR en octubre de 1997.)

UNE-EN 168200/A1:1993  UNE

Estado: Vigente / 1996-09-01

Especificación marco particular: Cualificación de unidades de cristal de cuarzo. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

UNE-EN 168201:1992  UNE

Estado: Vigente / 1997-11-01

Especificación marco particular: Resonadores de cristal de cuarzo (Homologación). (Ratificada por AENOR en noviembre de 1997.)

UNE-EN 166100:1998  UNE

Estado: Vigente / 1999-02-01

Especificación intermedia: Filtros de onda acústica de superficie (OAS). (Ratificada por AENOR en febrero de 1999.)

UNE-EN 168100:1993  UNE

Estado: Vigente / 1996-11-01

Especificación intermedia: Unidades de cristal de cuarzo. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)

UNE-EN 168101:1992  UNE

Estado: Vigente / 1997-11-01

Especificación marco particular: Resonadores de cristal de cuarzo (Capacitación). (Ratificada por AENOR en noviembre de 1997.)

UNE-EN 168200:1993  UNE

Estado: Vigente / 1996-09-01

Especificación marco particular: Cualificación de unidades de cristal de cuarzo. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

UNE-EN 166000:1995  UNE

Estado: Anulada / 2006-07-01

Especificación genérica: filtros de ondas acústicas superficiales. (Ratificada por AENOR en enero de 1996.)

UNE-EN 170000:1999  UNE

Estado: Anulada / 2007-12-01

Especificación genérica: Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas (Ratificada por AENOR en diciembre de 2000).

UNE-EN 60368-4-1:2000 CORR:2001  UNE

Estado: Vigente / 2001-04-01

Filtros piezoeléctricos de calidad asegurada. Parte 4-1: Especificación marco particular. Aprobación de la capacitación. (Ratificada por AENOR en abril de 2001).

UNE-EN 60368-4:2000 CORR: 2001  UNE

Estado: Vigente / 2001-04-01

Filtros piezoeléctricos de calidad asegurada. Parte 4: Especificación intermedia. Aprobación de la capacitación. (Ratificada por AENOR en abril de 2001).

UNE-EN 60368-4-1:2000  UNE

Estado: Vigente / 2001-04-01

Filtros piezoeléctricos de calidad asegurada. Parte 4-1: Especificación marco particular. Aprobación de la capacitación. (Ratificada por AENOR en abril de 2001).

UNE-EN 61338-1-3:2000  UNE

Estado: Vigente / 2000-08-01

Resonadores dieléctricos del tipo guía de ondas. Parte 1-3: Información general y condiciones de ensayo. Métodos de medición de la permitividad relativa compleja para resonadores dieléctricos que funcionan a la frecuencia de las microondas. (Ratificada por AENOR en agosto de 2000).

UNE-EN 60368-4:2000  UNE

Estado: Vigente / 2001-04-01

Filtros piezoeléctricos de calidad asegurada. Parte 4: Especificación intermedia. Aprobación de la capacitación. (Ratificada por AENOR en abril de 2001).

UNE-EN 60368-1:2000 CORR:2001  UNE

Estado: Vigente / 2001-04-01

Filtros piezoeléctricos de calidad asegurada. Parte 1: Especificación genérica. (Ratificada por AENOR en abril de 2001)

UNE-EN 61837-2:2000  UNE

Estado: Anulada / 2014-07-01

Dispositivos piezoeléctricos de montaje en superficie para el control y la selección de la frecuencia. Contornos normalizados y conexiones de los terminales. Parte 2: Envolventes cerámicas. (Ratificada por AENOR en abril de 2001)

UNE-EN 61837-3:2000  UNE

Estado: Anulada / 2018-05-21

Dispositivos piezoeléctricos de montaje en superficie para el control y la selección de la frecuencia . Contornos normalizados y conexiones de los terminales. Parte 3: Envolventes metálicas. (Ratificada por AENOR en abril de 2001).

UNE-EN 60444-1/A1:1999  UNE

Estado: Vigente / 2001-04-01

Medida de los parámetros de unidades de cristal de cuarzo por la técnica de fase nula en los circuitos en PI. Parte 1: Método básico para la medida de la frecuencia de resonancia y de la resistencia de resonancia de los cristales de cuarzo por la técnica de fase nula en los circuitos en PI. (Ratificada por AENOR en abril de 2001).

UNE-EN 60368-1:2000  UNE

Estado: Vigente / 2000-08-01

Filtros piezoeléctricos de calidad asegurada. Parte 1: Especificación genérica. (Ratificada por AENOR en agosto de 2000).

UNE-EN 60368-3:2001  UNE

Estado: Anulada / 2013-12-01

Filtros piezoeléctricos de calidad asegurada. Parte 3: Contornos y conexiones de plomo normalizados. (Ratificada por AENOR en marzo de 2002).

UNE-EN 170100:2001  UNE

Estado: Vigente / 2001-11-01

Especificación intermedia: Resonancias dieléctricas del tipo guía-onda. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2001)

UNE-EN 60679-3:2001  UNE

Estado: Anulada / 2016-01-19

Osciladores controlados por cristal de cuarzo con aseguramiento de la calidad. Parte 3: Contornos y conexiones de plomo normalizados. (Ratificada por AENOR en marzo de 2002).

UNE-EN 170101:2001  UNE

Estado: Vigente / 2001-12-01

Especificación marco particular: Resonancias dieléctricas del tipo guía-onda. Aprobación de la capacitación. (Ratificada por AENOR en diciembre de 2001)