Comité:
IEC/TC 65 Medida, control y automatización de procesos industriales
CLC/TC 65X Medición, control y automatización de procesos industriales
Normas elaboradas por el comité: CTN 203/SC 65: 705
Estado: ANULADA / 2007-11-01
Control de los procesos industriales. Seguridad de los edificios para analizadores.
Estado: ANULADA / 2007-04-01
Sistemas de comunicación en campo de uso general. (Ratificada por AENOR en junio de 2000)
Sistemas de comunicación en campo de uso general. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)
Sistemas de comunicación en campo de uso general. (Ratificada por AENOR en octubre de 1997.)
Subsistemas de comunicación de alta eficiencia para paquetes de datos pequeños. (Ratificada por AENOR en abril de 1999.)
Vía de datos utilizada en los sistemas de control industriales. Parte 2: Especificación de la capa física y definición del servicio. (Ratificada por AENOR en mayo de 1996.)
Vía de datos utilizada en los sistemas de control industriales. Parte 2: Especificación de la capa física y definición del servicio. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1997.)
Estado: ANULADA / 2007-03-01
Sistemas de control de procesos industriales. Instrumentos con entradas analógicas y salidas con dos o varios estados. Parte 1: métodos de evaluación de las características de funcionamiento. (Ratificada por AENOR en abril de 1996.)
Estado: ANULADA / 2006-12-01
Métodos de evaluación de las características de funcionamiento de los registradores gráficos analógicos eléctricos y neumáticos utilizados en los sistemas de control de procesos industriales.
Estado: ANULADA / 2006-07-01
Autómatas programables. Parte 1: Información general.
Estado: ANULADA / 2006-05-01
Autómatas programables. Parte 2: Especificaciones y ensayos de los equipos.
Controladores programables. Parte 2: Especificaciones y ensayos de equipos.
Estado: ANULADA / 2005-12-01
Autómatas programables. Parte 3: Lenguajes de programación.
Estado: ANULADA / 2005-07-01
Subsistema de comunicaciones industriales basado en la norma ISO 11898 (CAN) para interfaces de dispositivos controladores. Parte 1: Requisitos generales (Ratificada por AENOR en diciembre de 2001)
Estado: ANULADA / 2005-05-01
Expresión de las cualidades de funcionamiento de los analizadores de gas. Parte 3: Analizadores de oxígeno paramagnético. (Ratificada por AENOR en mayo de 2001)
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