Comité

Comité:

CTN 82/SC 2 - Metrologia dimensional

Secretaría:
CEM - CENTRO ESPAÑOL DE METROLOGÍA
Campo de Actividad:
Normalización de: El desarrollo del lenguaje GPS que proporcionará una más amplia variedad de herramientas necesarias con que expresar los diferentes requisitos funcionales de forma más precisa y completa en las especificaciones de las piezas en los siguientes aspectos de la metrología dimensional: defectos de forma, calidad superficial (perfil y 3D), referencias, temperatura de referencia, estimación de la incertidumbre, metrología de las máquinas de medicción por coordenadas, requisitos generales de los equipos de medición, nuevas "herramientas" matemáticas en Metrología Dimensional.
Estructura:

GT 1 Pequeños instrumentos

GT 2 Calidad superficial y nanometrología

GT 3 Incertidumbres en metrología dimensional

GT 4 Máquinas de medición por coordenadas

GT 5 Tolerancias dimensionales y geométricas. Defectos de forma

GT 7 Topografía como instrumento de metrología dimensional

Relaciones Internacionales:

ISO/TC 172/SC 6  Óptica y fotónica. Instrumentos geodésicos y de prospección*

ISO/TC 213  Especificación dimensional y geométrica de los productos y su verificación

CEN/TC 290  Especificación dimensional y geométrica de los productos y su verificación

* Alguna de las actividades de este TC corresponden a otros AEN/CTN.

Normas elaboradas por el comité: CTN 82/SC 2: 210

UNE 4034:1979

Estado: VIGENTE  /  1979-12-15

Marcado e identificación de los calibres de límites.

UNE 4036:1979

Estado: VIGENTE  /  1979-12-15

Verificación de tolerancias de piezas lisas. Instrumentos de medida de lectura directa.

UNE 4032:1979

Estado: VIGENTE  /  1979-12-15

Verificación de tolerancias de piezas lisas. Medida y empleo de los calibres de límites.

UNE 4031:1976 EX

Estado: VIGENTE  /  1976-12-15

Verificación de tolerancias de piezas lisas. Generalidades. Calibres de límites.

UNE 4030:1976 EX

Estado: VIGENTE  /  1976-04-15

Verificación de piezas lisas. Conceptos generales.

UNE-EN ISO 25178-603:2013 (Ratificada)

Estado: ANULADA  /  2025-04-01

Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial: Áreas. Parte 603: Características nominales de los instrumentos sin contacto (microscopios interferométricos de desplazamientos de fase) (ISO 25178-603:2013) (Ratificada por AENOR en enero de 2015.)

UNE-EN ISO 25178-604:2013 (Ratificada)

Estado: ANULADA  /  2025-04-01

Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial: Áreas. Parte 604: Características nominales de los instrumentos sin contacto (interferometría por barrido) (ISO 25178-604:2013) (Ratificada por AENOR en enero de 2015.)

UNE-EN ISO 5459:2012

Estado: ANULADA  /  2024-12-01

Especificación geométrica de productos (GPS). Tolerancia geométrica. Referencias específicas y sistemas de referencias específicas. (ISO 5459:2011).

UNE-EN ISO 3611:2012

Estado: ANULADA  /  2024-04-10

Especificación geométrica de productos (GPS). Equipos de medición dimensional. Micrómetros de exteriores. Diseño y características metrológicas. (ISO 3611:2010).

UNE 82306:1980

Estado: ANULADA  /  2024-04-10

Micrómetros de exteriores.

UNE-EN ISO 4288:1998

Estado: ANULADA  /  2023-06-07

Especificación geométrica de producto (GPS). Calidad superficial: Método del perfil. Reglas y procedimientos para la evaluación del estado superficial. (ISO 4288:1996).

UNE-EN ISO 25178-2:2013

Estado: ANULADA  /  2023-06-07

Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial: Áreas. Parte 2: Términos, definiciones y parámetros de calidad superficial. (ISO 25178-2:2012).

UNE-EN ISO 13565-2:1998

Estado: ANULADA  /  2023-06-07

Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial: Método del perfil; superficies con propiedades funcionales distintas, según el nivel de profundidad. Parte 2: Caracterización de alturas mediante la curva de porcentaje de material (Curva de Abbott). (ISO 13565-2:1996).

UNE-EN ISO 13565-3:2001

Estado: ANULADA  /  2023-06-07

Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial: Método del perfil. Superficies con propiedades funcionales distintas según el nivel de profundidad. Parte 3: Caracterización de alturas mediante la curva de probabilidad de material. (ISO 13565-3:1998).

UNE-EN ISO 4287:1999/AC:2010

Estado: ANULADA  /  2023-06-07

Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial: Método del perfil. Términos, definiciones y parámetros del estado superficial. (ISO 4287:1997/Cor 1:1998/Cor 2:2005).

UNE-EN ISO 4287:1999

Estado: ANULADA  /  2023-06-07

Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial: Método del perfil. Términos, definiciones y parámetros del estado superficial. (ISO 4287:1997+Technical Corrigendum 1).

UNE-EN ISO 4287:1999/A1:2010

Estado: ANULADA  /  2023-06-07

Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial: Método del perfil. Términos, definiciones y parámetros del estado superficial. Modificación 1: Número de picos. (ISO 4287:1997/Amd 1:2009)

UNE-EN ISO 1302:2002

Estado: ANULADA  /  2023-06-07

Especificación geométrica de productos (GPS). Indicación de la calidad superficial en la documentación técnica de productos. (ISO 1302:2002)

UNE-EN ISO 10360-10:2017

Estado: ANULADA  /  2023-02-08

Especificación geométrica de productos (GPS). Ensayos de aceptación y de verificación periódica de sistemas de medición por coordenadas (SMC). Parte 10: Láseres de seguimiento (Laser trackers) para medida de distancias punto a punto. (ISO 10360-10:2016).

UNE-EN ISO 12179:2001

Estado: ANULADA  /  2023-02-08

Especificación geométrica de productos (GPS). Estado superficial: Método de perfil. Calibración de instrumentos de contacto (palpador). (ISO 12179:2000)

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