Comité:
IEC/TC 48 Conectores eléctricos y estructuras mecánicas para equipos eléctricos y electrónicos
CLC/SR 48 Componentes electromecánicos y estructuras mecánicas para equipos electrónicos
CLC/SR 48B Conectores
CLC/SR 48D Estructuras mecánicas para equipos electrónicos
Normas elaboradas por el comité: CTN 209/SC 48: 423
Estado: VIGENTE / 2003-04-25
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-11: Ensayos climáticos. Ensayo 11k: Baja presión atmosférica.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-12: Ensayos climáticos. Ensayo 11m: Ensayo cíclico de calor húmedo.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-13: Ensayos climáticos. Ensayo 11n: Estanquidad frente a gases, conexiones arolladas sin soldadura.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-6: Ensayos climáticos. Ensayo 11f: Corrosión, niebla salina.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-9: Ensayos climáticos. Ensayo 11i: Calor seco.
Estado: VIGENTE / 2002-12-16
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 1-1: Examen general. Ensayo 1a: Examen visual.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-2: Ensayos climáticos. Ensayo 11b: Ensayo combinado/secuencial de frío a baja presión atmosférica y calor húmedo.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-3: Ensayos climáticos. Ensayo 11c: Ensayo continuo de calor húmedo.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-4: Ensayos climáticos. Ensayo 11d: Variaciones rápidas de temperatura.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-5: Ensayos climáticos. Ensayo 11e: Crecimiento de hongos.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 1-2: Examen general. Ensayo 1b: Examen de dimensión y masa.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 2-1: Ensayos de continuidad eléctrica y resistencia de contacto. Ensayo 2a: Resistencia de contacto. Método de nivel de milivoltios.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 2-3: Ensayos de continuidad eléctrica y de resistencia de contacto. Ensayo 2c: Variación de la resistencia de contacto.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 2-6: Ensayos de continuidad eléctrica y de resistencia de contacto. Ensayo 2f: Continuidad eléctrica del alojamiento (cubierta).
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 3-1: Ensayos de aislamiento. Ensayo 3a: Resistencia de aislamiento.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 4-2: Ensayos de esfuerzo dieléctrico. Ensayos 4b: Descargas parciales.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 4-3: Ensayos de esfuerzo dieléctrico. Ensayos 4c: Tensión de prueba para los tambores engastados preaislados.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 5-1: Ensayos de corriente límite. Ensayo 5a: Calentamiento.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 5-2: Ensayos de corriente límite. Ensayo 5b: Tasa de reducción de la intensidad en función de la temperatura.
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 6-1: Ensayos de esfuerzos dinámicos. Ensayo 6a: Aceleración constante.
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