Comité

Comité:

CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores

Secretaría:
UNE - ASOCIACIÓN ESPAÑOLA DE NORMALIZACIÓN
Relaciones Internacionales:

IEC/TC 47  Dispositivos de semiconductores

CLC/TC 47X 

Normas elaboradas por el comité: CTN 209/SC 47: 305

UNE-EN IEC 62433-1:2019 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2019-06-01

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 1: Marco general de modelado (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)

UNE-EN IEC 62435-6:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-12-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 6: Dispositivos empaquetados o terminados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2018.)

UNE-EN IEC 62435-4:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-09-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 4: Almacenamiento. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2018.)

UNE-EN IEC 62228-1:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-07-01

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 1: Condiciones generales y definiciones. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2018.)

UNE-EN 60191-4:2014/A1:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-06-01

Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 4: Sistema de codificación y clasificación para los tipos y formas de los encapsulados de dispositivos semiconductores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2018.)

UNE-EN IEC 60749-13:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-05-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2018.)

UNE-EN IEC 60749-26:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-05-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 26: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2018.)

UNE-EN IEC 60191-1:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-05-01

Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 1: Requisitos generales para la preparación de esquemas de dispositivos discretos. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2018.)

UNE-EN IEC 60749-12:2018 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-04-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibraciones, frecuencias variables. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en abril de 2018.)

UNE-EN 60747-16-3:2002/A2:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2018-01-01

Dispositivos semiconductores. Parte 16-3: Circuitos impresos de microondas. Convertidores de frecuencia. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2018.)

UNE-EN 60747-16-4:2004/A2:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-12-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-4: Circuitos integrados de microondas. Interruptores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2017.)

UNE-EN 60749-5:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-08-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2017.)

UNE-EN 60749-3:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-07-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

UNE-EN 60749-4:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-07-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 4: Ensayo continuo fuertemente acelerado de esfuerzo de calor húmedo (HAST). (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

UNE-EN 60749-6:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-07-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

UNE-EN 60749-9:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-07-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

UNE-EN 60747-16-1:2002/A2:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-07-01

Dispositivos semiconductores. Parte 16-1: Circuitos impresos de microondas. Amplificadores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

UNE-EN 62433-3:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-07-01

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 3: Modelos de circuitos integrados para simulación funcional de EMI. Modelo de emisión radiado (ICEM-RE). (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

UNE-EN 62433-2:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-06-01

Compatibilidad electromagnética. Parte 2: Modelos de circuitos integrados para simulación funcional de EMI. Modelo de emisión conducido (ICEM-CE) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2017.)

UNE-EN 62435-1:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-06-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 1: Generalidades. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2017.)

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