Comité:
IEC/TC 47 Dispositivos de semiconductores
CLC/TC 47X
Normas elaboradas por el comité: CTN 209/SC 47: 299
Estado: ANULADA / 2022-11-24
Especificación marco de detalle: Transistor de efecto de campo (FET) de puerta simple. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)
Especificación marco de detalle: Transistores bipolares para ser empleados como interruptor. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)
Especificación marco particular: Características nominales ambientales de los diodos rectificadores. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
Especificación marco particular: Características nominales del encapsulado de los diodos rectificadores. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
Especificación marco particular: Diodos de eliminación de sobretensión unidireccional transitoria. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
Estado: ANULADA / 2022-09-01
Especificación marco particular: Dispositivos semiconductores de potencia de contacto de presión discretos. (Aprobación de la cualificación). (Ratificada por AENOR en julio de 1998.)
Estado: ANULADA / 2022-05-16
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiación ionizante (dosis total)
Estado: ANULADA / 2022-05-03
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones.
Estado: ANULADA / 2022-01-17
Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 1: Definiciones y condiciones generales. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)
Estado: ANULADA / 2021-10-28
Circuitos integrados. Medida de la inmunidad electromagnética desde 150 kHz a 1 GHz. Parte 3: Método de inyección de volumen de corriente (BCI). (IEC 62132-3:2007). (Ratificada por AENOR en febrero de 2008.)
Estado: ANULADA / 2021-04-08
Especificación marco de detalle: Características nominales del encapsulado de los tiristores. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)
Estado: ANULADA / 2021-03-23
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.
Estado: ANULADA / 2021-02-28
Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 1: Requisitos generales para la preparación de esquemas de dispositivos discretos. (IEC 60191-1:2007). (Ratificada por AENOR en octubre de 2007.)
Estado: ANULADA / 2021-02-20
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 26: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM) (Ratificada por AENOR en julio de 2014.)
Estado: ANULADA / 2021-01-18
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibraciones, frecuencias variables.
Estado: ANULADA / 2020-09-03
Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-1: Dispositivos optoelectrónicos. Generalidades. (Ratificada por AENOR en julio de 2002)
Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-1: Dispositivos optoelectrónicos. Generalidades. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)
Dispositivos discretos de semiconductores y circuitos integrados. Parte 5-1: Dispositivos optoelectrónicos. Generalidades. (Ratificada por AENOR en octubre de 2001).
Estado: ANULADA / 2020-05-16
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización.
Estado: ANULADA / 2020-04-08
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo.
Volver a resultados Nueva Búsqueda
Diseñe su colección personalizada de normas. Manténgala actualizada.
