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Comité

Comité:

CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores

Secretaría:
UNE - ASOCIACIÓN ESPAÑOLA DE NORMALIZACIÓN
Relaciones Internacionales:

IEC/TC 47  Dispositivos de semiconductores

CLC/TC 47X 

Normas elaboradas por el comité: CTN 209/SC 47: 299

UNE-EN 62433-3:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-07-01

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 3: Modelos de circuitos integrados para simulación funcional de EMI. Modelo de emisión radiado (ICEM-RE). (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

UNE-EN 62433-2:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-06-01

Compatibilidad electromagnética. Parte 2: Modelos de circuitos integrados para simulación funcional de EMI. Modelo de emisión conducido (ICEM-CE) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2017.)

UNE-EN 62435-1:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-06-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 1: Generalidades. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2017.)

UNE-EN 62435-2:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-06-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 2: Mecanismos de deterioro (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2017.)

UNE-EN 62435-5:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-05-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 5: Dispositivos de oblea y bloques de material semiconductor (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2017.)

UNE-EN 62228-2:2017 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-03-01

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transmisores. Parte 2: Transmisores LIN (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2017.)

UNE-EN 62047-25:2016 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-01-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 25: Tecnología de fabricación de MEMS basados en silicio. Método de medida de la resistencia al cizallamiento y al desprendimiento del área de micro unión. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2017.)

UNE-EN 60191-6-13:2016 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2017-01-01

Normalización mecánica de dispositivos de semiconductores. Parte 6-13: Guía de diseño para la apertura en la parte superior tipo socket de FBGA y FLGA (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2017.)

UNE-EN 60749-44:2016 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2016-12-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de ensayo por efecto de evento único (SEE) mediante haz de neutrones irradiados para dispositivos semiconductores. (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)

UNE-EN 62433-4:2016 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2016-12-01

Modelado de CEM de circuitos integrados. Parte 4: Modelos de circuitos integrados para la simulación del comportamiento de inmunidad RF. Modelado de inmunidad conducida (ICIM-CI) (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)

UNE-EN 62779-1:2016 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2016-07-01

Dispositivos semiconductores. Interfaz semiconductora para comunicación con el cuerpo humano. Parte 1: Requisitos generales (Ratificada por AENOR en julio de 2016.)

UNE-EN 62779-2:2016 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2016-07-01

Dispositivos semiconductores. Interfaz semiconductora para comunicación con el cuerpo humano. Parte 2: Caracterización del funcionamiento de la interfaz (Ratificada por AENOR en julio de 2016.)

UNE-EN 62779-3:2016 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2016-07-01

Dispositivos semiconductores. Interfaz semiconductora para comunicación con el cuerpo humano. Parte 3: Tipo funcional y sus condiciones de funcionamiento. (Ratificada por AENOR en julio de 2016.)

UNE-EN 62047-26:2016 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2016-06-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 26: Descripción y métodos de medición para microsurcos y estructuras de agujas (Ratificada por AENOR en junio de 2016.)

UNE-EN 62047-1:2016 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2016-05-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 1: Términos y definiciones (Ratificada por AENOR en mayo de 2016.)

UNE-EN 62132-1:2016 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2016-04-01

Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 1: Definiciones y condiciones generales (Ratificada por AENOR en abril de 2016.)

UNE-EN 62047-16:2015 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2015-08-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 16: Métodos de ensayo para determinar la tensión residual de películas MEMS. Métodos de curvatura de la oblea y de deflexión del haz (Ratificada por AENOR en agosto de 2015.)

UNE-EN 62047-17:2015 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2015-08-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 17: Método de ensayo de bulto para medir las propiedades mecánicas de las películas finas (Ratificada por AENOR en agosto de 2015.)

UNE-EN 60749-42:2014 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2014-11-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 42: Almacenamiento en temperatura y humedad (Ratificada por AENOR en noviembre de 2014.)

UNE-EN 62047-20:2014 (Ratificada)

Estado: VIGENTE  /  2014-11-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 20: Giróscopos (Ratificada por AENOR en noviembre de 2014.)

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