Comité:
IEC/TC 47 Dispositivos de semiconductores
CLC/TC 47X
Normas elaboradas por el comité: CTN 209/SC 47: 299
Estado: VIGENTE / 1996-09-01
Especificación marco particular: Diodos emisores de luz y de infrarrojos para sistemas o subsistemas de fibra óptica. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
Especificación marco particular: Fotodiodos PIN para aplicaciones de fibra óptica. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
ESPECIFICACIÓN MARCO PARTICULAR: PANTALLAS DE CRISTAL LÍQUIDO (LCD). LCD MONOCROMOS SIN CIRCUITO ELECTRÓNICO. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
Estado: VIGENTE / 1995-12-01
Vía de datos para sistemas de microprocesadores (multibus I). Parte 1: descripción funcional con especificaciones eléctricas temporizadas (Ratificada por AENOR en diciembre de 1995.)
Vía de datos para sistemas de microprocesadores (multibus I). Parte 2: descripciones mecánicas y descripciones de los pitones para la configuración del sistema de la vía de datos, con conectores directos (Ratificada por AENOR en diciembre de 1995.)
Estado: VIGENTE / 1994-09-23
Bus I sistema microprocesador, datos: 8 bits y 16 bits. Parte 3: descripción mecánica y de terminales para la configuración con conectores de terminales y zócalos (indirectos).
Estado: VIGENTE / 1993-12-29
CEI 822 VSB. Bus paralelo de subsistemas del Bus CEI 821. VME-Bus.
Estado: VIGENTE / 1991-09-12
Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Especificación intermedia para los dispositivos discretos.
Estado: VIGENTE / 1978-06-15
Símbolos literales para los dispositivos con semiconductores y microcircuitos integrados.
Estado: ANULADA / 2025-04-06
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática. Modelo de dispositivo cargado- Nivel de dispositivo. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2017.)
Estado: ANULADA / 2025-01-04
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 39: Medida de la difusividad de la humedad y solubilidad en agua en materiales orgánicos para componentes semiconductores (IEC 60749-39:2006). (Ratificada por AENOR en noviembre de 2006.)
Estado: ANULADA / 2024-10-10
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 43: Directrices para los planes de cualificación de fiabilidad de circuitos integrados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2017.)
Estado: ANULADA / 2024-04-25
Especificación marco particular: Características nominales ambientales de los fotoacopladores con salida de fototransistores. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
ESPECIFICACIÓN MARCO PARTICULAR: DIODOS EMISORES DE INFRARROJOS, MATRIces DE DIODOS EMISORES DE INFRARROJOS. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
ESPECIFICACIÓN MARCO PARTICULAR: DIODOS EMISORES DE LUZ (LED), MATRICES DE LEDS, PANTALLAS DE MATRICES DE LEDS SIN LÓGICA INTERNA NI RESISTENCIA. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
Especificación marco particular: Fotodiodos, matrices de fotodiodos (para aplicaciones distintas a fibra óptica). (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
Especificación marco particular: Fototransistores, fototransistores darlington, matrices de fototransistores. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
Estado: ANULADA / 2024-04-21
Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Mediciones de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo 1 ohm/150 ohm. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2017.)
Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Mediciones de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo 1 ohm/150 ohm. (Ratificada por AENOR en abril de 2006.)
Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Mediciones de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo 1 ohm/150 ohm. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)
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