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Norma
PNE-prEN IEC 62132-8:2025

PNE-prEN IEC 62132-8:2025

Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 8: Medición de la inmunidad radiada. Método de la línea TEM de placas con circuito integrado (IC)

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré

ICS:

31.200 / Circuitos integrados. Microelectrónica

CTN:
CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores
Modificará a:

UNE-EN 62132-8:2012 (Ratificada)

Equivalencias internacionales:

prEN IEC 62132-8:2025

IEC 62132-8 ED2

Este proyecto se encuentra en fase de información pública. Si desea consultarlo o realizar comentarios al mismo puede hacerlo en www.srp.une.org. Si desea adquirir el documento puede solicitarlo en normas@aenor.com.