UNE-EN 60749-6:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 6: Stockage à haute température